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誠(chéng)信經(jīng)營(yíng)質(zhì)量保障價(jià)格合理服務(wù)完善更多信息可在應(yīng)用指南頁(yè)面上找到 | 傳統(tǒng)上,金相學(xué)是使用光學(xué)、數(shù)碼或激光掃描顯微鏡對(duì)金屬和合金的顯微組織進(jìn)行研究的學(xué)科。近隨著材料科學(xué)的發(fā)展,金相學(xué)已擴(kuò)展到包括從電子產(chǎn)品到運(yùn)動(dòng)用品中使用的復(fù)合材料等廣闊領(lǐng)域。通過分析材料的顯微組織,我們可以更好地了解材料的性能和可靠性。今天,金相學(xué)已用于材料開發(fā)、進(jìn)料 檢驗(yàn)、產(chǎn)品和生產(chǎn)控制,以及失效分析。金相學(xué)對(duì)于產(chǎn)品的可靠性非常關(guān)鍵。 |
截點(diǎn)法晶粒度解決方案(鐵素體晶粒的顯微結(jié)構(gòu)) | 此解決方案適用于鋼的鐵素體或奧氏體晶粒度測(cè)量。它可以使用不同的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)級(jí)(ASTME112-13;ISO643:2012;JISG0551:2013;JISG0552:1998;GOST5639-82;GB/T6394-2002和DIN50601:1985)。 |
主要特征
| 典型應(yīng)用
| 相關(guān)功能
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第二相的晶粒度面積法解決方案 (鐵素體晶粒的顯微組織) | 此解決方案適用于使用不同的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)浸蝕的顯微組織進(jìn)行晶粒度自動(dòng)測(cè)量(包括鋁的顯微結(jié)構(gòu))。 (ASTME112-13;ISO643:2012;JISG0551:2013;JISG0552:1998;GOST5639-82;GB/T6394-2002和DIN50601:1985)。 |
主要特征
| 典型應(yīng)用
| 相關(guān)功能
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鑄鐵分析解決方案(鐵素體晶粒顯微結(jié)構(gòu)) | 此解決方案適用于自動(dòng)評(píng)估鑄鐵樣本(球墨鑄鐵和蠕墨鑄鐵)中的石墨球化率和含量。石墨球化的形態(tài)、分布和大小按照以下標(biāo)準(zhǔn)分類:ISO945-1:2010;ASTMA247-17;JISG5502:2001;KSD4302:2006;GB/T9441-2009;ISO16112:2017;JISG5505:2013;ASTME2567-11(僅用于球化率);ASTM |
主要特征
| 典型應(yīng)用
| 相關(guān)功能
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夾雜物惡劣視場(chǎng)解決方案(帶非金屬夾雜物的鋼) | 在樣品上手動(dòng)查找夾雜物惡劣視場(chǎng)及惡劣夾雜物。這類解決方案根據(jù)以下標(biāo)準(zhǔn)提供結(jié)果:ASTM E45-13方法A,ISO 4967(方法A):2013,EN 10247:2007方法 M,EN 10247:2007方法P,DIN 50602:1985方法M,JIS G0555:2003方法A, UNI3244:1980方法M,GB/T10561:2005方法A。顯示出單獨(dú)的雜質(zhì),并且可以進(jìn)行編輯。 |
主要特征
| 典型應(yīng)用
| 相關(guān)功能
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可輕松比較實(shí)時(shí)或靜態(tài)圖像與自動(dòng)縮放的參考圖像。這類解決方案需要 購(gòu)買所需標(biāo)準(zhǔn)中的標(biāo)準(zhǔn)參考圖像(ASTM E 112-04,ISO 643:1983,ISO 643: 2012,DIN 50602:1985,ISO 945-1:2008,SEP 1520:1998,SEP 1572 :1971,EN 10247:2007,ISO 4505:1978)。該方案還可支持包括實(shí)時(shí)疊加顯示和并排比較的多種模式??梢詥为?dú)購(gòu)買其他參考圖像。
標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖對(duì)比解決方案(帶非金屬夾雜物的鋼) |
標(biāo)準(zhǔn)評(píng)級(jí)圖對(duì)比解決方案(鐵素體顯微組織) |
主要特征
| 典型應(yīng)用
| 相關(guān)功能
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